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美國(guó)Xentaur公司XDT露點(diǎn)儀

美國(guó)Xentaur公司XDT露點(diǎn)儀

美*Xentaur公司XDT露點(diǎn)儀擁有墻掛式、一體式、盤(pán)面式、隔爆式等多種安裝方式選擇。廣泛應(yīng)用于天然氣工業(yè); 塑料的干燥過(guò)程; 空分; 石油化工原料氣; 熱處理過(guò)程; 及其他特定工業(yè)氣體中的水份測(cè)量。
XDT露點(diǎn)儀
XDT露點(diǎn)儀原理電容法露點(diǎn)儀
所有的氧化鋁水份測(cè)量原理都是相同的 -- 傳感器的電容量隨水分子在氧化鋁層中的濃度變化而變化。傳感器電容的電 是外表的鍍金層和內(nèi)部的鋁芯。 傳統(tǒng)的氧化鋁技術(shù)是在60 - 70年代的研究和開(kāi)發(fā)成果。

HTF (超薄膜氧化鋁技術(shù)) 是90年代金屬表面氧化技術(shù)的成果。 氧化鋁超薄膜技術(shù)具有如下的結(jié)構(gòu)優(yōu)點(diǎn):
1. 超薄膜 HTF 在鋁表面形成非常薄的的氧化層。 超薄的氧化層使水分子更加自由的進(jìn)出氧化層, 從而大大提高傳感器的響應(yīng)速度。 HTF技術(shù)比傳統(tǒng)氧化鋁技術(shù)的響應(yīng)速度快幾倍。
2. 過(guò)度層HTF技術(shù)的鋁和氧化鋁的過(guò)度層非常薄, 從而使傳感器的電 非常接近(外表的鍍金層和內(nèi)部的鋁芯)。 因而傳感器在干濕轉(zhuǎn)換過(guò)程中的電容量變化非常明顯。 相比傳統(tǒng)的氧化鋁技術(shù), 這種高電容量變化特性有效的抑制其它外界因素對(duì)傳感器電容量的影響, 如環(huán)境溫度和老化的因素。
3. 氧化鋁薄膜的多孔幾何結(jié)構(gòu)HTF氧化鋁表層的多孔幾何結(jié)構(gòu)是非常不同與傳統(tǒng)氧化鋁表層的吸水結(jié)構(gòu)。當(dāng)水分子進(jìn)入HTF氧化鋁表層的多孔幾何結(jié)構(gòu)時(shí), 從而增加了電介質(zhì), 提高了電容量。另外, HTF氧化鋁表層的多孔幾何結(jié)構(gòu)可以保證長(zhǎng)期的結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性。相比之下傳統(tǒng)氧化鋁表層的吸水性結(jié)構(gòu)缺少結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性, 隨著時(shí)間的推移, 氧化鋁表層的吸水結(jié)構(gòu)會(huì)退化成非吸水結(jié)構(gòu)。

XDT露點(diǎn)儀HTF技術(shù)的測(cè)量?jī)?yōu)勢(shì):XTD露點(diǎn)儀現(xiàn)場(chǎng)案列
1. 與傳統(tǒng)氧化鋁傳感器相比, HTF傳感器具有300倍以上的濕度敏感性
2. HTF傳感器具有長(zhǎng)期的穩(wěn)定性和抗老化性
3. 溫度對(duì)HTF傳感器整個(gè)測(cè)量范圍的影響可以忽略
4. 具有很強(qiáng)的抗腐蝕和抗污染性
5. HTF傳感器無(wú)需定期的飄移校驗(yàn)

XDT露點(diǎn)儀技術(shù)規(guī)格:
傳感器: 超薄膜型高電容量氧化鋁
露點(diǎn)范圍:XTR-100型: -100°C 至 +20°C (-148°F 至 +68°F)
  XTR- 65型: -65°C 至 +20°C (-85°F 至 +68°F)
電  容:15 nF 至 200 nF
精  度:±3°C
重 復(fù) 性:±0.5°C
溫度范圍:-30°C 至 +50°C (-22°F 至 104°F)
樣品流量:100m/s
壓力標(biāo)準(zhǔn): 34巴
電纜長(zhǎng)度:同軸電纜, 大長(zhǎng)度914米

變送器
分 辨 率:0.1°C 露點(diǎn)
指 示 器:LCD數(shù)顯, 露點(diǎn)°C,ppmv, gH2o/m3; 等
輸  出:4-20ma, RS-232
報(bào)警繼電器:選件
電  源:100 - 240VAC, 或15 - 30 VDC
防爆等*:Class I, Div 1, Group A,B,C,D; Class II, E,F,G
     Class I, Div II Grop A,B,C,D; Class II Group F,G
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